低溫試驗(yàn)箱考核和確定電工、電子技術(shù)產(chǎn)品或材料在經(jīng)受溫度進(jìn)行突變不致產(chǎn)生一定損傷重要作用的非散熱電工、電子信息產(chǎn)品通過低溫下貯存和使用的適應(yīng)性。汽車環(huán)境模擬試驗(yàn)室該環(huán)境控制艙是國(guó)內(nèi)唯一能夠?qū)崿F(xiàn)汽車?yán)鋯?dòng)試驗(yàn)、汽車高低溫試驗(yàn)、霜霧模擬試驗(yàn)、車內(nèi)有害氣體模擬試驗(yàn)、整車排放試驗(yàn)等可靠的實(shí)驗(yàn)環(huán)境。氙燈老化試驗(yàn)箱采用能模擬全陽光光譜的氙燈燈來再現(xiàn)不同環(huán)境下存在的破壞性光波，可以為科研、產(chǎn)品開發(fā)和質(zhì)量控制提供相應(yīng)的環(huán)境模擬和加速試驗(yàn)。恒溫恒濕試驗(yàn)箱試驗(yàn)各種材料耐熱、耐寒、耐干燥、耐濕性能。適合電子、電器、食品、車輛、金屬、化學(xué)、建材等行業(yè)品管之用。該系列產(chǎn)品適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元?dú)饧诟叩蜏鼗驖駸岘h(huán)境下、檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能指標(biāo)。低溫試驗(yàn)箱可以設(shè)計(jì)采用強(qiáng)迫空氣循環(huán)來保持工作溫度分布均勻。為了發(fā)展限制輻射能力影響，試驗(yàn)箱內(nèi)壁各部分溫度與規(guī)定試驗(yàn)研究溫度之差不應(yīng)超過8%(按開爾文溫度提高計(jì)算)，且試驗(yàn)分析樣品不應(yīng)受到一些不符合上述問題要求的任何加熱與冷卻元件的直接輻射。

低溫試驗(yàn)室采用數(shù)控機(jī)床加工，采用無反應(yīng)手柄，操作方便。

低溫試驗(yàn)案例標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2421-1999 電氣和電子環(huán)境測(cè)試部分 1：一般規(guī)則（idtI EC 60068-1：1：1988）：GB/T 2422-19 95 電氣電子環(huán)境測(cè)試術(shù)語（eqvI EC 60068-5-2：1990）：GB/T 2424.1-1989 年電氣電子產(chǎn)品基本環(huán)境測(cè)試程序高溫和低溫測(cè)試指南